Unimet – adaptery testowe

UNIMET Adaptery do testów

• Adaptery testowe (TAxx) dodatkowo rozszerzają możliwości bazowej stacji testowej (M3000, UNIMET 3000, UNIMET 2020).
• Zawierają dodatkowe przyrządy niezbędne do testowania dedykowanej rodziny urządzeń.
• Z sukcesem kontynuowaliśmy rozwój adapterów testowych M3000, pierwotnie zaprojektowanych przez SZ Testsysteme GmbH w Amerang.
• Nasze nowo zaprojektowane adaptery testowe to TA37 (dyskretne półprzewodniki) i TA39 (OpAmps) spełniają nowe wymagania ery współczesnych półprzewodników.
• Oczywiście nadal możemy oferować nieco przeprojektowane, ale nadal kompatybilne, wersje oryginalnych adapterów testowych firmy SZ Testsyteme.
• Wszystkie TA są kontrolowane przez SCADUS, nasze uniwersalne oprogramowanie testowe.
• Kompletny dostarczony pakiet TAxx zawiera także tzw. Golden Device tj. mi. urządzenia z protokołowanymi wynikami badań i referencjami
• Adaptery gniazd z dedykowanym gniazdem urządzenia i obwodami aplikacyjnymi.

TA37

Testowanie:

Tranzystory (NPN, PNP, małej mocy, Darlington, tranzystory polowe (kanał N, kanał P, Power-MOS)), diody, diody Zennera, macierze, opcjonalnie 2000 V.

Zakresy testowe: 600V/100A

PARAMETRY – TRANZYSTORY BIPOLARNE

• Napięcie przebicia VCE0(BR)
• Napięcie przebicia VCES(BR)
• Napięcie nasycenia VCE(sat)
• Napięcie nasycenia VCB0
• Napięcie przebicia VCB0
• Napięcie przebicia VEB0
• Napięcie przewodzenia diody VF(dioda)
• Prąd odcięcia kolektora/emitera ICEO, ICBO, IEBO
• Przy napięciu VBE(on)
• Wzmocnienie prądu stałego hfe(DC)
• Wzmocnienie prądu AC h21e(AC)

PARAMETRY – TRIAK I TYRYSTORY

• Prąd wyzwalania bramki IGT
• Napięcie wyzwalania bramki VGT
• Prąd upływu w stanie wyłączonym IDO
• Hold CurrentIH
• Latch current IL

PARAMETRY – DIODY I DIODY ZENNERA

• Napięcie przewodzenia VF
• Napięcie wsteczne VR
• Napięcie Zenera VS
• Odwrotny prąd upływowy IR
• Opór dynamiczny DC RD dyn
• Opór dynamiczny AC Rz

PARAMETRY – MOS-FET

• Napięcie przebicia V(BR)DSSO
• pór cieplny Rth
• Odwrotne napięcie diody VSD
• Napięcie progowe bramki VGS
• Na oporze RDS(on)
• Transkonduktancja przewodzenia gfs
• Prąd upływowy do przodu/do tyłu IGSS
• Na napięciu VDS(on)
• Identyfikator prądu drenu w stanie włączenia (on)

TA39

Testowanie:

• Wzmacniacze operacyjne, Komparatory, Chopper OA.
• Napięcie niezrównoważenia wejściowego VOS
• Zakres regulacji napięcia offsetowego
• Dodatni/ujemny prąd zasilania VRGOS
• Wejściowy prąd polaryzacji IB
• Wejściowy prąd polaryzacji IB+/IB
• Wejście offset prądu IOS
• Duże wzmocnienie napięcia sygnału AVO
• Szybkość narastania ±SR+/SR
• Współczynnik odrzucenia trybu wspólnego CMRR
• Współczynnik tłumienia zasilania PSRR+/PSRR
• Wahania napięcia wyjściowego VO+/VO
• Gain bandwidth product GBP
• Transduktancja przewodzenia GM
• Prąd zwarciowy ISC
• Test działania FCT

TA01

Adapter testowy RLC.

Testowanie:

• Rezystory
• Kondensatory
• Cewki indukcyjne
• Można mierzyć rezystancję, pojemność i indukcyjność.
• Można także ustawić wartość referencyjną i porównać w punktach procentowych odchylenie od wartości referencyjnej.
• W przypadku kondensatorów i cewek adapter mierzy także tangens delta – wartość 1/Q.

TA02B

Testowanie:

przekaźniki monostabilne, przekaźniki bistabilne z 1 lub 2 cewkami.

Testowalne parametry:

• Rezystancja cewki RCOIL
• Napięcie przewodzenia diody Vtwd
• Test przypadku ICASE
• Rezystancja styku RCONTACT
• Prąd upływowy Ileak
• Test działania FCT
• Odbiór energii. Voperate, Ioperate
• Energia po porzuceniu Vrelease, Irelease
• Czas zadziałania toperate, (V), (I)
• Czas zwolnienia tzwolnienie, (V), (I)
• Czas tranzytu t tranzyt, (V), (I)
• Synchroniczność tsync
• Czas odbicia tbounce
• Numer odbicia nbounce

TA03B

Testowanie:

Regulatory

• Napięcie wyjściowe Vo
• Regulacja linii RegLine
• Regulacja obciążenia RegLoad
• Prąd spoczynkowy Iq
• Odrzucenie tętnienia SVR
• Zresetuj prąd upływowy Ileak
• Prąd zwarciowy Isc
• Zanik napięcia DOV
• Resetuj czas opóźnienia Tres
• Resetuj szerokość impulsu Trpw

Zresetuj napięcie wyjściowe Vres

TA06B

Testowanie:

Transoptory z analogowymi wejściami/wyjściami, 1–4 urządzeń w pakiecie.​

• Aktualny współczynnik transferu CTR
• Napięcie nasycenia lub napięcie wyjściowe Vsat, Vout
• Prąd ciemny lub prąd wyjściowy IOH, IOUT
• Napięcie przewodzenia diody lub napięcie wejściowe Vfd, Vin
• Napięcie przebicia diody Vbr
• Czas włączenia ton
• Czas wyłączenia toff
• Prąd wsteczny lub prąd wejściowy Iin
• Prąd zasilania ICC
• Prąd wyjściowy IOS
• Prąd załączenia IE
• Próg lub histereza Prądów/Napięć I/UTH

TA08B

Testowanie:

• Przetworniki A/C,
• Przetworniki D/A,
• Urządzenia Sample & Hold,
• Napięcie odniesienia

TA10B

Testowanie:

CMOS, HCMOS, NMOS, PMOS, TTL (LS, ALS, S, FAST, etc.), DTL, HTL, ECL.

TA15B

Testowanie:

• Przełączniki strony niskiej, Przełączniki strony wysokiej.
• 6 programowalnych źródeł odniesienia
• Źródło zasilania 45V/100A (szczyt)
• Sterownik pinowy ±12V
• Wzmacniacz różnicowy
• Rozszerzenie VI-Source PSM51 ±51V/5A

TA16B

Testowanie:

statyczna pamięć RAM, ROM, PROM, EPROM, EEPROM.

• Adresy bitów 0…16
• Bity danych 0…16
• Bity kontrolne 0…7
• Czas dostępu 0…630ms
• Programowalne źródła napięcia/prądu, liczniki i inne przyrządy

TA17B

Testowanie:

procesorów i urządzeń peryferyjnych, pamięci, tablic logicznych, urządzeń logicznych TTL.

ARCHITEKTURA GRUP TESTOWYCH

• 48 dwukierunkowych sygnałów testowych
• Szybkość transmisji danych do 10 MHz
• Test sprzętu oceniający w trybie wejściowym
• Oczekiwane dane przechowywane w kanale wyjściowym
• Dane wejściowe porównano z danymi oczekiwanymi
• Znaki błędów przechowywanych wektorów wejściowych
• 10-bitowy licznik zdarzeń awaryjnych