Threaded Probes and Step Probes
- Sondy krokowe mogą być używane wszędzie tam, gdzie testowany styk znajduje się w obudowie lub wnęce.
Zasada testu opiera się na fakcie, że płytka spoczywa na badanym urządzeniu (np. obudowie złącza) na pewnej głębokości.
Jeśli element przyłączeniowy nie jest obecny lub jest za krótki, nie ma styku elektrycznego.
Test złącza z sondą krokową jest bardzo prosty, ale wymaga dostępności pewnych wymiarów sond krokowych. Dlatego niezbędna jest duża różnorodność wymiarów. - Sondy gwintowane i sondy krokowe są używane głównie w modułach do testowania wiązek przewodów i złączy.
Można je wkręcić za pomocą odpowiedniego narzędzia do wkręcania.
Zaletą jest to, że nawet w trudnych warunkach zagwarantowane jest bezpieczne osadzenie sondy.
Krótsza wersja F175 to igła serii F176
Krótsza wersja F175...SP to igła serii F176...SP
Dostępne dwa modele z serii F176...SP:
F17611B0001G080SP
F17611B0002G080SP
F720 doskonale nadaje się do testowania małych złączy o rozstawie do 50 mil.
F72012B0001G110SP może być używana do testowania złącza Nano MQS.
Bardzo krótka igła
Dla tej igły jest dostępna wersja wciskana, seria F713
Jedna z najkrótszych igieł, 19,5mm długości.
Wersje specjalne F73012B0006G110SPS1 / F73012B0015G095SPS1
Te warianty mogą być używane do złącza Nano MQS
Dostępna oprawka lutowana H731LAST.
Dostępna oprawka lutowana H732LARDS1, dla aplikacji z wibracjami
Wersja tej igły w wykonaniu Long Travel to F737...SP
Dostępna oprawka lutowana H733LARDS1, dla aplikacji z wibracjami
Twist proof with continuous plunger